辐射校正
1、概念
进入传感器的辐射强度反映在图像上就是亮度值(或灰度值)。辐射强度越大,亮度值就越大。该值主要受两个物理量的影响:一是太阳辐射照射到地面的辐射强度,二是地物的光谱反射率。当太阳辐射相同时,图像上亮度的差异直接反应了地面反射率的差异。但实际测量时,发现辐射强度值还受其他因素的影响,这一改变的部分就是需要校正的部分,故称辐射畸变。
引起辐射畸变的原因有:(1)传感器本身的误差(2)大气对辐射的影响(3)地形对辐射的影响(地形校正)
2、辐射校正方法(梅安新)
(1)直方图最小值去除法
(2)回归分析法
3、针对引起辐射畸变的原因,完整的辐射校正包括:传感器校正、大气校正、地形校正和太阳高度角校正。
大气校正
1、概念
2、目的
大气校正的目的是消除大气和光照等因素对地物反射的影响,获取地物反射率、辐射、地表温度等真实物理模型参数,用来消除大气中水蒸气、氧气、二氧化碳、甲烷和臭氧等对地物反射的影响,消除大气分子和气溶胶散射的影响。大多数情况下,大气校正同时也是反演地物真实反射率的过程。
3、方法分类
绝对大气校正方法:基于辐射传输的MORTRAN模型、LOWTRAN模型、ACTOR模型和6S模型等
相对大气校正方法:基于统计的不变目标法、直方图匹配法
4、ENVI提供大气校正功能
(1)简化黑暗像元法(Dark Subtraction)
(2)基于统计学模型的反射率反演
①平场域法(Flat Field,FF)、对数残差法(Log Residuals)、内部平均法(Internal Average Relative Reflectance)和经验线性法(Empirical LIne)。
(3)不变目标法
(4)FLASSH大气校正模块
(5)快速大气校正(Quick Atmospheric Correction)
(6)热红外大气校正
工具箱→Radiometric Correction→Thermal Atm Correction工具



客服